на тему рефераты Информационно-образоательный портал
Рефераты, курсовые, дипломы, научные работы,
на тему рефераты
на тему рефераты
МЕНЮ|
на тему рефераты
поиск
Исследование статистических зависимостей для контактных систем типа W UMa

Исследование статистических зависимостей для контактных систем типа W UMa

СОДЕРЖАНИЕ

ВВЕДЕНИЕ....................................................................

..............................3

§1 Классификация тесных двойных

систем.............................................

§2 Алгоритм

ZET.........................................................................

................

§3 Применение метода ZET……………………………………………..

ВЫВОДЫ.....................................................................

..................................

ПРИЛОЖЕНИЕ.................................................................

............................

ЛИТЕРАТУРА.................................................................

..............................

ВВЕДЕНИЕ.

Изучение фотометрических и абсолютных элементов тесных двойных систем,

находящихся на разных стадиях эволюции, представляет большой интерес

с точки зрения статистического исследования этих систем, изучения

строения Галактики, а также теории происхождения и эволюции одиночных и

двойных звезд. Одной из важных характеристик тесных двойных систем

является отношение масс мене массивной компоненты к более массивной

q=m2/m1 . Отношение масс позволяет уточнить эволюционный тип звезды,

определить форму внутренней критической поверхности (т.н. полости Роша), а

также положение первой точки Лагранжа. Для контактных систем, исследуемых в

данной работе, у которых обе компоненты близки друг к другу и практически

наполняют пределы полости Роша, отношение масс q, кроме всего прочего,

определяет конфигурацию всей системы (зависящую от большой полуоси A,

отношения масс q, угла наклона i).

Однако, отношение масс q известны точно для очень малого числа систем,

имеющих данные спектроскопических наблюдений. Фотометрические же данные,

полученные, как правило, с помощью метода синтеза кривых блеска, не

являются надежными, так как этот метод позволяет получить точное решение

лишь для симметричных кривых блеска. Так, например, у контактных систем,

исследуемых в данной работе, вследствие близости компонент друг к

другу, кривые блеска сильно искажены газовыми потоками, пятнами и

околозвездными газовыми оболочками.

Для статистических исследований представляет значительный интерес

хотя бы приближенная оценка относительных и абсолютных параметров тех

затменных систем, для которых элементы спектроскопической орбиты неизвестны

и прямое вычисление их абсолютных характеристик не представляется

возможным.

М.А. Свечников и Э.Ф. Кузнецова в [2] для такой приближенной оценки

использовали статистические соотношения (масса - радиус, масса - спектр,

масса - светимость и др.) для компонент различных типов, а также ряд

других статистических зависимостей. Из-за того, что использованные для

определения элементов статистические зависимости носят приближенный

характер, следует ожидать, что для многих систем найденные в [2]

приближенные элементы окажутся неточными и даже ошибочными. Это

обусловливает необходимость теоретических подходов к оценке параметров

затменных переменных звезд. В изученной статье [1] отношение масс

компонент q и спектральный класс главной компоненты Sp1 для звезд типа W

UMa определяется с помощью статистического метода ZET, разработанного в

Международной лаборатории интеллектуальных систем (Новосибирск) Н.Г.

Загоруйко. Метод ZET применялся для восстановления глубины вторичных

минимумов звездных систем типа РГП (ошибка прогноза составила 5-8%),

спектров звезд этого типа, спектров класса главной компоненты контактных

систем типа KW и отношения масс. Точность восстановления доходила до 10%

и только для q этот результат был завышен. Была составлена таблица, в

которую включены q, полученные разными авторами, для некоторых отдельных

систем значения q имеют очень большие расхождения. Поэтому цель данной

работы улучшить качества восстановления q методом ZET.

§1. Классификация тесных двойных систем.

В 1967-69 гг. М.А.Свечниковым была разработана классификация

тесных двойных систем, сочетающая достоинства классификации

Копала(1955), учитывающей геометрические свойства этих систем (размеры

компонент по отношению к размерам соответствующих внутренних критических

поверхностей (ВКП) Роша) и классификации Крата(1944, 1962 гг.), основанной

на физических характеристиках компонентов, входящих в данную систему. Эта

классификация удобна при статистических исследованиях тесных двойных звезд,

и, будучи проведена по геометрическим и физическим характеристикам

компонентов затменных систем (отношению размеров компонентов к размерам

соответствующих ВКП, спектральным классам и классам светимости

компонентов), оказывается в то же время связанной с эволюционными стадиями

затменных систем, определяемыми их возрастом, начальными массами

компонентов и начальными параметрами орбиты системы.

Как было показано в работе М.А.Свечникова (1969), подавляющее

большинство изученных затменных переменных звезд (т.е. тех систем, для

которых определены фотометрические и спектроскопические элементы)

принадлежит к одному из следующих основных типов:

1. Разделенные системы главной последовательности (РГП), где оба компонента

системы являются звездами главной последовательности, не заполняющими

соответствующие ВКП, обычно не приближающиеся к ним ближе по размерам чем

ѕ

2. Полу разделенные системы (ПР), где более массивный компонент является

звездой главной последовательности, обычно далекой от своего предела Роша,

а менее массивный спутник является субгигантом, обладающим избытком

светимости и радиуса и близким по размерам к соответствующей ВКП.

3. Разделенные системы с субгигантом (РС), у которых, в отличии от ПР-

систем, спутник-субгигант, несмотря на большой избыток радиуса, не

заполняет свою ВКП, а имеет размеры, значительно меньшие, чем последняя.

4. "Контактные" системы, в которых компоненты близки по своим размерам к

соответствующим ВКП (хотя и не обязательно в точности их заполняют).

Эти системы подразделяются на два разных подтипа:

а) Контактные системы типа W UMa (KW), имеющие, в большинстве случаев,

спектры главных компонентов более поздние, чем F0. Главные (более

массивные) компоненты у этих систем не уклоняются значительно от

зависимостей масса-светимость и масса-радиус для звезд главной

последовательности в то время, как спутники обладают значительным избытком

светимости (подобно субгигантам в ПР и РС-системах), но не обладают

избытком радиуса (вследствие чего они располагаются на диаграмме спектр-

светимость левее главной начальной последовательности, примерно параллельно

ей);

б) Контактные системы ранних спектральных классов (КР) (F0 и более

ранние), где оба компонента, близкие по размерам к своим ВКП, тем не

менее, в большинстве случаев не уклоняются значительно от зависимостей

масса-светимость и масса-радиус для звезд главной последовательности.

5. Системы, имеющие хотя бы один компонент, являющийся либо сверхгигантом,

либо гигантом позднего спектрального класса (С-Г). Такие системы

сравнительно многочисленны среди изученных затменных переменных

вследствие их высокой светимости и необычных физических характеристик, но

в действительности они, по-видимому, должны составлять лишь небольшую долю

от общего числа тесных двойных систем.

6. Системы, у которых, по крайней мере, один компонент лежит ниже главной

последовательности и является горячим субкарликом или белым карликом (С-

К). Сюда же были отнесены и системы, один из компонентов, которых является

нейтронной звездой или "черной дырой", а также системы с WR-компонентами.

Подобная классификация была выполнена ранее М.А.Свечниковым (1969) для

197 затменных систем с известными абсолютными элементами. Она могла быть

более или менее уверенно проведена также для затменных переменных с

известными фотометрическими элементами, у которых можно каким-либо образом

оценить и отношение масс компонентов q=m2/m1 и тем самым определить

относительные размеры соответствующих ВКП. Так, из примерно 500 затменных

систем с известными фотометрическими элементами, имеющихся в карточном

каталоге М.А.Свечникова, надежную классификацию можно было провести для

367 систем. В остальных случаях при отнесении системы к тому или иному типу

имеется некоторая степень неуверенности, обычно из-за отсутствия или

ненадежности имеющихся данных о величине q.

§2 Алгоритм ZET.

Алгоритм ZET предназначен для прогнозирования и редактирования

(проверки) значений в таблицах "объект-свойство". В таких таблицах строки

соответствуют рассматриваемым объектам, а столбцы есть значения

характеристик, описывающих эти объекты. Таким образом, на пересечение

строки с номером "i" и столбца с номером "j", будет находиться значение j-

ой характеристики для i-го объекта. Клетку таблицы, расположенную на

пересечение i-ой строки и j-го столбца, обозначим символом Aij. Пусть

значения Aij неизвестно. Можно достаточно уверенно предсказать это

значение, если использовать имеющиеся в таблице закономерности. В реальных

таблицах многие столбцы связаны друг с другом. Есть в таблицах и строки,

похожие друг на друга по значениям своих характеристик. В алгоритме ZET

выявляются такие связи, и на их основе выполняется предсказание искомого

значения. Предсказание осуществляется на основе принципа локальной

линейности. Это одна из основных идей, позволившая построить эффективный

метод и получать хорошие результаты. Она заключается в том, что

предсказание выполняется не на всей информации, имеющейся в таблице, а

только на той ее части, которая наиболее тесно связана со строкой и

столбцом, в которых этот пробел находится. Другими словами, в алгоритме

ZET, в отличии от многих других алгоритмов заполнение пробелов,

реализуется "локальный" подход к предсказанию каждого пропущенного

значения. Для вычисления этого значения строится своя "предсказывающая

подматрица", содержащая только имеющую отношение к делу информацию. В

подматрицу отбираются в порядке убывания сходства строки, т.е. строки,

самые похожие на строку, содержащую интересующий нас пробел, а затем для

выбранных строк отбираются также в порядке убывания сходства столбцы

"самые похожие" на столбец, содержащий этот пробел.

| | | | | | |

| | | | | | |

| | |Фai|Aai| | |

| | |k |j | | |

| | |Aal|Aal| | |

| | |k |j | | |

| | | | | | |

| | | | | | |

Предсказание элемента Aij по k-му столбцу Aij(k) делается на

основание гипотезы о линейной зависимости между столбцами, при этом

сначала вычисляются коэффициенты линейной регрессии Вjk и Сjk ,и по

ним находится элемент Aij(k):

Aij(k)=Bjk*Aik+Cjk.

После того, как будут сделаны предсказания Аij(k) по всем р столбцам,

не имеющим пропуска в i-ой строке, вычисляется средневзвешенная

величина элемента:

Aij(стб)=([pic]Aij(k)*Qkj)/([pic]Qkj)

Вклад каждого столбца (строки) в результат предсказания зависит от их

"компетентности" Q, являющейся функцией двух аргументов: "близости"

между j-м и k-м столбцами (i-ой и l-ой строками) и "взаимной заполненность"

этих столбцов (строк). "Близость" представляет собой степенную функцию

модуля коэффициента линейной корреляции (Rkj)а (или (Ril)а). "Взаимная

заполненность" k-го и j-го столбцов (Lkj) равна числу непустых пар

элементов этих столбцов Alk и Alj для всех l от 1 до m. Отсюда:

Qil=(Ril)a*Lil

Qkj=(Rkj)a*Lkj .

Выбор показателя степени а осуществляется следующим образом, при каждом

Страницы: 1, 2



© 2003-2013
Рефераты бесплатно, курсовые, рефераты биология, большая бибилиотека рефератов, дипломы, научные работы, рефераты право, рефераты, рефераты скачать, рефераты литература, курсовые работы, реферат, доклады, рефераты медицина, рефераты на тему, сочинения, реферат бесплатно, рефераты авиация, рефераты психология, рефераты математика, рефераты кулинария, рефераты логистика, рефераты анатомия, рефераты маркетинг, рефераты релиния, рефераты социология, рефераты менеджемент.